GTEM500小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。

GTEM500小室

PA3000 1月4日 0.04% 讀數 + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 參數分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備

4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 參數分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 參數分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜"

BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報價

BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報價

BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報價

CR125A 時鐘恢復儀器 12.5 Gb/s - 配置與報價

CR175A 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s - 配置與報價

CR286A 時鐘恢復儀器 28.6 Gb/s - 配置與報價

PED3201 1 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價

PED4001 1 通道誤碼檢測器 40 Gb/s - 配置與報價

PED3202 2 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價

PPG1251 1 通道可編程碼型發生器 12.5 Gb/s - 配置與報價

PPG1601 1 通道可編程碼型發生器 16 Gb/s - 配置與報價

PPG1602 2 通道可編程碼型發生器 16 Gb/s - 配置與報價

PPG3001 1 通道可編程碼型發生器 30 Gb/s - 配置與報價

PPG3201 1 通道可編程碼型發生器 32 Gb/s - 配置與報價